成像测井 [复制链接]

引用第7楼kgdwxl001于2011-06-14 21:32发表的 :
成像测井资料实际上是一种电阻率测井，因此，理论上是可以用来计算孔隙度的；但是它探测深度浅，目前应用的是利用常规测井资料计算的总孔隙度约束，用电成像测井资料计算孔隙度频谱，从而分析孔隙度的分布区间；斯伦贝谢的porospect模块就是这个功能，它还可以据谱分析出原生孔隙度与次生孔隙度，但这个原生孔隙度和次生孔隙度与地质上的概念是不一样的。
另外，由于仪器探头聚焦性能所致，目前，能用于定量处理孔隙度的资料主要有FMI和XRMI，其它资料质量不行，根本无法进行电阻率刻度。